In-situ Measurement Using Germanium Semiconductor Detector(part1,part2)
No.33 In-situ Measurement Using Germanium Detector(part1,part2)
ゲルマニウム半導体検出器を用いてin-situ（現場）測定する場合の測定及び解析方法を示したものです。また、測定場所周囲の地形や検出器の設置高さなど解析結果への影響要因を検討し補正方法等を記載してあります。
制定（改訂）
2008年制定
2017年改訂
ゲルマニウム半導体検出器を用いてin-situ（現場）測定する場合の測定及び解析方法を示したものです。また、測定場所周囲の地形や検出器の設置高さなど解析結果への影響要因を検討し補正方法等を記載してあります。
Pub. Year
Establishment in 2008
Revision in 2017