Sample Pretreatment for Instrumental Analysis using Germanium Semiconductor Detector, etc.
No.13 Sample Pretreatment for Instrumental Analysis using Germanium Detector, etc.
ゲルマニウム半導体検出器等によるγ線スペクトル測定を行うために、測定試料を調製する試料前処理法が示されています。前処理の目的は試料の容積を減らすことです。前処理によって分析すべき放射性核種を損失しない方法、試料の均質性を保つための注意点などが示されています。
制定（改訂）
1982年制定
ゲルマニウム半導体検出器等によるγ線スペクトル測定を行うために、測定試料を調製する試料前処理法が示されています。前処理の目的は試料の容積を減らすことです。前処理によって分析すべき放射性核種を損失しない方法、試料の均質性を保つための注意点などが示されています。
※Japanese OnlyPub. Year
Establishment in 1982