No.13 ゲルマニウム半導体検出器等を用いる機器分析のための試料の前処理法
No.13 Sample Pretreatment for Instrumental Analysis using Germanium Detector, etc.
ゲルマニウム半導体検出器等によるγ線スペクトル測定を行うために、測定試料を調製する試料前処理法が示されています。前処理の目的は試料の容積を減らすことです。前処理によって分析すべき放射性核種を損失しない方法、試料の均質性を保つための注意点などが示されています。
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制定（改訂）
1982年制定
ゲルマニウム半導体検出器等によるγ線スペクトル測定を行うために、測定試料を調製する試料前処理法が示されています。前処理の目的は試料の容積を減らすことです。前処理によって分析すべき放射性核種を損失しない方法、試料の均質性を保つための注意点などが示されています。
※Japanese OnlyPub. Year
1982